Podczas produkcji wyświetlaczy płaskich (FPD) przeprowadzane są testy mające na celu sprawdzenie funkcjonalności paneli oraz testy mające na celu ocenę procesu produkcyjnego.
Testowanie podczas procesu macierzy
Aby przetestować funkcję panelu w procesie matrycowym, test matrycy jest wykonywany przy użyciu testera matrycy, sondy matrycowej i jednostki sondy. Test ten jest przeznaczony do testowania funkcjonalności obwodów matryc TFT utworzonych dla paneli na podłożach szklanych i wykrywania wszelkich uszkodzonych przewodów lub zwarć.
Jednocześnie, w celu przetestowania procesu w procesie macierzowym, sprawdzenia powodzenia procesu i przesłania informacji zwrotnej na temat poprzedniego procesu, do testu TEG stosuje się tester parametrów DC, sondę TEG i jednostkę sondy. („TEG” oznacza grupę elementów testowych, obejmującą tranzystory TFT, elementy pojemnościowe, elementy przewodowe i inne elementy obwodu macierzowego.)
Testowanie w procesie jednostkowym/modułowym
W celu sprawdzenia funkcjonowania panelu w procesie komórkowym i modułowym przeprowadzono testy oświetleniowe.
Panel zostaje aktywowany i podświetlony w celu wyświetlenia obrazu testowego pozwalającego sprawdzić działanie panelu, występowanie wad punktowych, wad liniowych, chromatyczność, aberrację chromatyczną (nierównomierność), kontrast itp.
Istnieją dwie metody kontroli: wizualna kontrola panelu przez operatora oraz automatyczna kontrola panelu z wykorzystaniem kamery CCD, która automatycznie wykrywa wady i przeprowadza testy poprawności działania.
Do inspekcji stosuje się testery ogniw, sondy ogniw i jednostki sond.
W teście modułu wykorzystano również system wykrywania i kompensacji mury, który automatycznie wykrywa murę, czyli nierówności na wyświetlaczu, i eliminuje murę poprzez kompensację sterowaną światłem.
Czas publikacji: 18-01-2022