Większość przemysłowych CT maStruktura granitowa. Możemy wyprodukowaćpodstawa maszyny granitowej z szynami i śrubamina indywidualne badania rentgenowskie i tomografię komputerową.
Firmy Optotom i Nikon Metrology wygrały przetarg na dostawę systemu tomografii komputerowej rentgenowskiej o dużej powierzchni dla Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach. System Nikon M2 to wysoce precyzyjny, modułowy system inspekcyjny, wyposażony w opatentowany, ultraprecyzyjny i stabilny 8-osiowy manipulator, zbudowany na granitowej podstawie o jakości metrologicznej.
W zależności od zastosowania, użytkownik może wybrać jedno z 3 źródeł: unikalne źródło mikrofokusowe 450 kV firmy Nikon z obrotowym targetem do skanowania dużych i gęstych próbek z rozdzielczością mikrometrową, źródło minifokusowe 450 kV do szybkiego skanowania oraz źródło mikrofokusowe 225 kV z obrotowym targetem do mniejszych próbek. System będzie wyposażony zarówno w detektor płaski, jak i opatentowany przez firmę Nikon detektor CLDA (Curved Linear Diode Array), który optymalizuje zbieranie promieni rentgenowskich bez wychwytywania niepożądanych promieni rozproszonych, co zapewnia doskonałą ostrość i kontrast obrazu.
System M2 idealnie nadaje się do inspekcji części o różnych rozmiarach, od małych próbek o niskiej gęstości po duże materiały o wysokiej gęstości. Instalacja systemu odbędzie się w specjalnie zbudowanym bunkrze. Ściany o wysokości 1,2 m są już przygotowane do przyszłych modernizacji do wyższych zakresów energii. Ten system o pełnej funkcjonalności będzie jednym z największych systemów M2 na świecie, oferując Uniwersytetowi Kieleckiemu wyjątkową elastyczność, wspierającą wszelkie możliwe zastosowania zarówno w badaniach naukowych, jak i w lokalnym przemyśle.
Podstawowe parametry systemu:
- Źródło promieniowania minifokusowego 450 kV
- Źródło promieniowania mikroogniskowego 450 kV, typ „Tarcza obrotowa”
- Źródło promieniowania 225 kV typu „Tarcza Obrotowa”
- Źródło promieniowania „wielotarczowego” 225 kV
- Detektor liniowy Nikon CLDA
- detektor panelowy o rozdzielczości 16 milionów pikseli
- możliwość badania elementów o masie do 100 kg
Czas publikacji: 25 grudnia 2021 r.